QCVELOX-E
上层监控最优 hXRD性能
系统首选
半导体子串、上层构造和处理设备瓦器例行分析基本工具
QCVELOX-E
万博在线客服BrukerQCVelox-E系统是首选系统,由顶点制造厂监督生产线基础行业标准QC3,对吞吐量、可靠性和易用性进行重大升级通过使用最优X光源和光学技术,高通量并发并极可重复性,以便能够快速反馈生产环境内层质量和结构
最优X射线
源码光学技术
真实自动化操作
例常分析半导体子串、上层构造和处理设备动画
自动化运维
QCVelox-E提供真正的自动化操作,直向横向采样并全自动化对齐,测量包括无边缘排查全映射和自动化数据分析综合条码阅读器可帮助生产环境中的生产率
可选机器人处理器可用磁带自动加载测量,SECS-GEM系统和其他工厂主机系统选项
QCVelox-E是所有复合半导体材料的半导体子串、上层构造和处理设备动画例分析基本工具
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