触摸模式

TappingMode™ 使研究人员能够对无法承受接触模式横向力的脆弱样品进行成像,并可实现远超非接触模式的较快扫描速度。

TappingMode AFM 是布鲁克的一项专利技术,通过使用振荡探针针尖轻敲表面进行形貌成像。悬臂梁的振荡幅度随样品表面形貌而变化,可通过监测这些变化并在z 反馈回路中以将变化保持在最低限度,从而获得形貌图像。

aFM+++静电力显微镜(EFM)和磁力显微镜(MFM)。