X光半导体计量法

RADS软件

软件快速精确XRD测量分析

万博在线客服BrukerRADS是行业中最受信任软件模拟和分析单晶子片缩片结构高分辨率X-ra分片数据研发软件 制作软件 学术软件 详细分析简单复杂结构

RADS软件为用户提供多种工具,便于准确快速XRD测量分析RADS软件通过自动计算过程参数并立即处理反馈制作设计自始至终提高过程并产生结果自1991年以来,这种排他性能组合使RADS成为领先过程监控分析软件

新特征

  • emedGUI允许用户选择程序外观情感
  • 附加支持保值SOI子串
  • 增强缺陷分布模型以包括maisec模型和离子移植随机原子移位效果
  • 允许使用常用结构模型同时安装从不同反射测出的两个数据集
  • 内含显示深度剖面图各种参数的能力,例如组成
  • 打印报表可用HTML、PDF、RTF和各种其他格式创建
  • 改良批处理能力
  • 支持多核心处理器并分配到任何特定核心/CPU的能力

规范化

  • X射线分解动态理论(Takagi-Taupin)精确模拟
  • SSE2/3指令使用现代处理器快速模拟模拟安装比同台计算机上v3x快约x3-4
  • 包括专利数据配置技术可靠自动化分析多层结构
  • 易创建模型结构使用电子表格式图层列表
  • 允许用层参数方程说明任意组成和线段剖面
  • 层参数连接简化复杂多层结构分析
  • 广域内置和资料数据库,也可以按用户定制
  • 模型对非001立方体的上下文赋值,如层次分解(110)和面向子串并支持基平面面向六边形
  • 模拟现实工具条件
  • 精密科学图形绘制和输出能力
  • 支持各种数据文件格式万博在线客服Jordan Valley,Bede,Bruker,PANalytical
  • 支持写相配结果到关系数据库
  • 批量分析多实验数据文件
  • 提供综合宏语言和强自动化能力
  • Windows XP、Vista和7支持