M4TORNADOPLUS
超光元素微XRF
XRF下向碳映射
He-Purge敏感样本
碳化
可检测性最小值
从碳开始的所有元素都可测量
6
毫米
焦点深度AMS
孔径管理系统允许在地形样本上绘制锐图像
0.5-4.5
毫米
可选择堆积器大小
四位同位变换器加插管
革命超光速微XRF扫描器
万博在线客服使用布鲁克微XRF家庭最新模型后,你可以发现更多样本比XRF曾经显示的更多
M4TORNADOPLUS使用超光元检测器,是第一个从碳向上测量元素的微XRF扫描器光元素性能强增
万博在线客服布鲁克引入专利孔径管理系统AMS系统提高多毛虫透镜焦点深度,以绘制不均匀样本的锐度元素映射可选第二X射线源进一步扩大分析能力,四大可选点尺寸从0.5至4.5毫米
灯光提高速度提高深度提高
M4TORNADO家族院为He-Flush提供选项提高光元素性能同时保持室内气压生物或湿试样中的光元素可以分析而无需冷冻或干燥样本
PLUS分析性能
- 测量固态、粒子或液并有各种优异性 M4TORNADO家族
- 扩展您的微XRF经验 能力记录光谱,线扫描 和全元素范围地图 从碳开始
- 记录并保存光学图像和全光谱信息组合
- 通过聚焦X射线与2个高通量超光分量SD检测器合并减少测量时间
- 万博在线客服快速量化结果并配置基本参数例程或使用BrukerXMethod软件实现标准支持、完全标准基层厚度量化
- 高深度地图分布式采样使用孔径管理系统AMS系统)
- manbet手机网页提高性能并升级服务包
