电波显微分析器

QUANTAX扁平QUAD

X射线检测最大效率

无匹配传递

分析敏感样本

一号
内米
空间解析
南欧SEM分辨率
1.1
sr
最高固态角
固角表示生成X射线几何收集效率
1600
kcps
传输输出
速度比常规EDS检测器快两倍多

QUANTAX平面QUAD-

QUANTAXFlatQUAD基于革命的EDS微分析系统XFlash应用®扁平QUAD.失效四道流检测器插入SEM极块和样本间,实现EDS最大固角并发ESPRITQUANTAXFlatQAD分析软件套件提供无价映射性能,即使是最难采样也是如此

  • 极快映射仅使用中波束流
  • 极低波束流对波束敏感材料的分析生物或半导体样本
  • 调查带有地形学样本,避免影射效果
  • 纳米粒子和纳米结构分析低kV
  • 薄样本测量TEM拉链和SEM低X光输出的其他标本

最大化效率

万博在线客服唯一废品布吕克设计XFlash应用®扁平QUAD检测器及其在SEM极块和样本间的位置引导非匹配固态角直接转换为快速测量并发ESPRIT软件套件QUANTAXFlatQAD提供理想分析工具最小波束流样本或高地形样本

上头XFlash应用®扁平QUADSEM或FIB也可以转换为低电压分析STEM,以以最高空间分光分辨率更及时和成本效益分析电子透明样本

从电子透明样本获取更多信息®平面EFLAVEBSD检测器改装Obsimus2检测器头.