ARGUSFSE/BSE成像系统

上头eFlashEBSDOGOSTM前向电子系统和后向电子成像系统可选提供检测器这会进一步提高探测器多功能性,为有意义高效微结构定性提供宝贵的补充信息

twoBSE检测器集安装到EBSD检测器屏幕上三大FSE检测器在屏幕下方检测器的这一位置不影响eFlash性能或方便用户性能,屏幕仍可替换用户FSE/BSE检测器操作所需的所有电子设备都已列入eFlash+检测器封存除方便外,这也确保信号损耗最小化,因为预增压器离探测器近

BSE检测提高图像质量

高采样倾斜EBSD模式,标准SESE检测系统往往产生低质噪声图像ARGUSTMBSE检测器定位最优从高斜角样本获取BSE信号包括屏幕以上位置和偏向样本,两者都保证信号强度最优同时 EDS检测器可适配BSE检测器,为同时EDS获取EBSD获取提供最佳条件生成信号可单独使用或与FSE检测器混合使用

颜色取向对比图像与OGOSTMFSE检测器

三种ARGUSTMFSE检测器均定位于磷屏下方,捕捉高度异位分解信号的不同部分(Kikuchi模式)。允许ARGOSTM系统检测最小信号变异,因为多晶体样本扫描时方向改变使用颜色编码显示信号,即使是极小方向修改也可见人眼特征独有ARGOSTM系统详情请参考AP.Day等,Microscript杂志卷公元前1953 1999年9月3日,pp186-196.)

信号优化快速完全自动化,多亏它完全融入ESPRIT软件.FSE信号可与BSE信号合并

ARGOSTM图像有科学实用应用