eFlashFS

新建EBSD检测器eFlashFS设计为最大灵敏度允许高速EBSD测量而不损损耗数据质量-甚至在挑战性应用上如变形或轻量素为提高模式质量,eFlashFS冷却系统升级以降低功能温度,从而尽可能减少CCD摄像头暗流

多亏敏感度提高三分暗流下降四分法(前eFlash1000),新eFlashFS检测器是所有EBSD应用最优选择摄像敏感度大提高加速度高效磷屏新eFlashFS检测器是动态实验理想解决方案,如原位加热和原位抗拉压缩测试

3DEBSD是另一个重要应用,将大大受益于eFlashFS检测器速度和敏感能力

获取400x300像素映射/切片时, 将快速准备到~2分10秒表示70片3DEBSD数据立方体的数据采集部分(8.4Mvoxels)只需要~2.5小时

极灵敏度使新的eFlashFS检测器完全解决低kVEBSD应用和SEM传输KikuchiDiffraction向导映射模式使用新检测器对OPTIMUSTMTKD检测头进行改装,现在可以速度达每秒630框架,同时实现至少2纳米的有效空间解析

通常测量时间为每张地图几分钟,上轴TKD不仅显著提高效率而不影响数据质量,而且还尽量减少波束不稳定诱发的人工品

eFlashFS可用ARGUSTM前向/后向电子成像系统这会进一步提高检测器多功能性,为有意义高效微结构定性提供宝贵的补充信息