HysitronPI85E
扩展范围即时纳米机测试工具扫描电子显微镜
Hysitron PI85ESEM识别码
Hysitron PI85ESEM识别码扩展实战机械测试范围,缩小纳米尺度和微尺度特征间的差距深度感知纳米机测试系统专门设计以利用扫描电子显微镜(SEM、FIB/SEM、PFIB)高级成像能力,同时进行定量纳米机测试扩展力范围使研究人员能精确测试需要较大负载诱发故障和/或骨折的大小和/或硬结构PI85E工具提供跨材料频谱的缩进、压缩、紧张和疲劳测试(从金属和合金到陶瓷、复合材料和半导体材料)。紧凑低调PI85E架构使它最适合小片SEMs、raman和光学显微镜、波束等
模块化
套核心测试技术
支持纳米缩进、压缩、紧张、疲劳、PTP、EPTP和电气定性
基本知识
SEM附属
多用户设施技术员和操作员可靠测量
扩展式
力范围
提供高低负载移位能力测试高强度高达标样本
纳米缩进式高精度现场机械测试
特征硬性、爬虫性、压力松动、弹性模积分近表层特征、界面、局部微结构以及薄膜折叠
行为探索扩展范围
变形碳纳米管结构
Hysitron PI85E整合各种测试模式来特征基本机械特性、压力约束行为、僵硬性、骨折强度和变形机制万博在线客服除Bruker行业标准测试传感器外,PI85E提供较高负载(250mN)和较大置换能力(150mm)。高带宽传感器和弹性带高级控制电子设备完全优化大规模样本测试并提供异常性能和敏感度
二维三维纳米结构特征化
变形ZnO纳米线安装E-PTP
Hysitron PI85E系统使用专利推到拉(PTP)设备特征单维结构,如纳米线和纳米管,二维结构,如独立薄膜也可以用工具选用电推图设备来描述这些结构的电特征PI85E大置换范围也是测试三维层变换大段的理想条件
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