维度XR
维度XR
万博在线客服Bruker尺寸XR扫描显微镜系统包含数十年研究和技术革新常规原子缺陷解析 和各种特殊技术 包括峰值纹理®DataCube模式、SECM模式和AFM-NDMA模式提供最大性能和能力维度XR类SPM打包技术转包解决纳米机电电应用材料量化和空气、流体、电气或化学反应环境活性纳米系统从来不易实现。
最高分辨率面向所有模式,所有环境
从液态和硬度图点缺陷到空气传导图原子解析,维度XR系统在所有测量中提供最高分辨率万博在线客服使用Bruker专有峰值纹理技术实现硬质和软质性能基准,包括晶体缺陷解析和聚合物分子缺陷同一种技术在解决成百上千图像上最小的粗玻璃异差方面发挥着同样重要的作用。万博在线客服系统把峰值触摸与极稳定性、独特探针技术 和Bruker数十年小技巧扫描创新经验相联高分辨率成像一致性完全独立于样本大小、权重或介质-并用于任何应用
革命AFM-NDMA
AFM首次能提供完整量化对比分析聚合物,即线性系统内Nam尺度检验材料自主双通道检测、相冲修正和参考频率跟踪使0.1赫兹至20千赫兹射程小波测量成为存储模度、损模和损正直接与散装DMA相联的纳米级测量
特权数据立方模式
模式使用FAST工具卷执行每个像素中的强距离频谱,并有用户定义的嵌入时间使用高数据捕获率,多电量测量沉积时间,结果产生电子和机械像素每像素光谱DataCube模式完全描述单项实验 商业AFM
独有峰值SEC
空间分辨率小于100纳米时,该模式重新定义峰值单片以量级极大提高传统方法的解决权允许全新研究能源存储系统、腐蚀科学生物传感器,开通个人纳米粒子、纳米相位和纳米粒子新测量门峰值SEC同时捕捉带纳米平面分辨率的地形图、电化学图、电图和机械图
NanoScope 6AFM控制器
纳诺Scope 6控制器以更高速度、低噪声和高性能维度和多模式AFM系统全方位开发用户能力。 最新一代控制器提供前所未有的精度、精度和多功能性,供每一次应用中纳米度表层测量使用。
万博在线客服NanoScope 6独有性能BrukeraFMs
- 多成像模式操作比竞技系统可能操作多,包括需要复杂控制分析的独特高级AFM模式
- 收集准确量化数据供纳米电机属性测量并
- 优化定制扫描参数以满足甚至最严格的研究和行业测量需求
扩展应用AFM模式
万博在线客服布鲁克拥有非调频技术 供每次调查使用
万博在线客服建在核心成像模式骨架上-接触模式和塔普模式-Bruker提供AFM模式,允许用户探查样本电磁或材料属性万博在线客服Bruker新创峰值测试技术代表新核心成像范式,并编成数种模式,并行提供地形、电气和机械特性数据
维度XR数据库
