ML加法

多层样本层厚度和化学组成很容易用X射线荧光分析确定分层样本直接分析波长分布式X射线光谱仪s8TIGER.

ML^加法正在扩展Spertra^加法单层多层样本分析波散射X射线频谱分析允许直接判定层样本的厚度和组成分数原子层(小于1纳米)并直达m-或甚至m-

ML^加法使用完全基本参数方法计算所有计算厚度和组成确定ML+基于SPECTRA无标准标定^加法即不需要具体的多层标准可使用多层标准优化结果

ML^加法模型搭建后可自动评价提供多层分析供例常进程控制使用,例如生产层玻璃或涂层钢