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当食品厂商能够减少识别发现物理污染物并定位源所需的时间时,成本大为节省越快识别它并判定它是否来自故障设备、启动素材或甚至是虚报,越快制作可重开
食品厂商不想要外国对象归结于产品中,但有可能发生关键是手头工具 快速识别这些污染物 并定位源生产期间发现一块金属、陶瓷、石块、玻璃、塑料或橡胶时,可显示故障或破损设备在这种情况下,光谱解析法可引导制造商修复或替换需要的设备
有机污染物如塑料或橡胶FT-IR光谱学最理想,而无机污染物如玻璃、金属碎片和碎片手持式XRF方法选择手持式XRF和台式FT-IR都可用于生产楼层或实验室识别小至1毫米的物质污染物微镜分析实验室微xRF无机碎片小至20微米,而m-FT-IR可提供2微米以上有机材料分析
手持式XRF理想样本快速分析任何材料:小轻(带电池小1.5kg),预加点阵标选
致力于快速例行化学分析,最大易用性和可靠性紧凑表因数加轮廓QC性能
高性能微XRF小点( <20m点尺寸)和多层分析(12可选择)提供组成和元素分布图(2D区域扫描)
致力于快速易微化学分析 和超快成像理想故障解析 粒子解析和QC故障解析
手持和便携式XRF(HH-XRF,pXRF)识别食品物理污染
如何使用XRF光谱指纹识别食品物理污染