图层深度分析SEM上微XRF薄金属编码
即时会议-64分钟
图层厚度薄金属布局分析
微XRF常用非损分析法测量各种样本的薄膜厚度而不作样本准备外层组成可同时判定链针或焊接板、铅架和芯片载体、太阳能电池涂层或甚至用作各种材料腐蚀防护层的涂层等应用实例方法非损耗操作和X射线渗透样本并获取表层下材料信息的能力使这种方法吸引单层和多层厚度和组成分析
网络研讨会将讨论XMethod软件模块层模型开发使用X跟踪内微XRF源附加焦点将放在显示数个应用实例上,例如不同子串上的金属涂层、印刷电路板上铜涂层Au/Ni复合层太阳能电池也将讨论将比较标定标准结果以显示精度和可复制性
webNar会议15分钟前结束 由专家回答你的问题
Al EDS图假色 Al/Si层样本
mic-XRF/SEM层测量原理
由谁处理
- 质量控制专家确保电子行业薄金属涂层的厚度和组成
- manbet手机网页聚合质量控制技术员负责多氯联苯涂层服务质量保证和故障分析
- 研发研究人员
Al线强度 Al/Si层样本
讲演者
博士最大布格勒
万博在线客服应用科学家微XRF,Brukernao分析
斯提夫博赫姆
万博在线客服SEM和WDS产品管理员微XRF Bruker Nano分析
查看WebNar在线点播
下输入细节获取点播访问 webnar