QC3
高分辨率X射线分片系统
久经证明的上层QC系统
QC3
QC3系统长期建立并证明对上层使用QC系统高分辨率X射线分片工具最理想质量控制用于测量几乎各种物层的成分和厚度T级系统使用标准密封管光学,并加各种波束调节晶体,这些晶体可优化,为每项应用提供最高分辨率和强度组合
全300毫米行程
允许同时测量大片或数小片
自动化运维
QC3提供真正的自动化操作,直向横向采样并发并完全自动化对齐、测量和数据分析数据分析可自动或离线使用广受欢迎的RADS软件样本阶段全300毫米行程,可同时测量大片或数小片上层生长中QC测量传统选择工具
支持
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