DataCube模式
相关多层电气谱
DataCube模式使用FAST工具卷执行每个像素中的强距离频谱,并使用用户定义的“正常时间”。使用高数据捕获率,多电量测量沉积时间,结果产生电子和机械像素每像素光谱典型强距离光谱以40赫兹斜坡速度测量,每像素100ms居住时间,提供单项实验的全面特征描述,商业AFM中未读到并发地形学、机械学和多维电学信息这些数据现在可作为一项例常AFM测量实现DataCube模式使多维数据立方以纳米尺度与复合数据相交能力使强效数列新模式
DataCUBE-TUNA
传导AFM结果受应用样本电压影响,显示材料或设备重要性能转换DCUBE-TUNA允许同时获取纳米机信息并用多采样电压单度测量,并搭建稠密数据样本信息立方体唯一模式提供样本传导性全景,细节如传导性类型(Ohmic非Ohmic,Schottky等)和屏障高度
DataCUBE-SCM
扫描电容显微镜提供方法直接测量活性载体精度DCUBE-SCM同时获取纳米机载信息技术为观察dC/dV放大和dC/dV相位变化和交接位置移位提供独特的解决办法通过生成数据立方体,研究者可观察更多关于氧化物厚度、氧化物荷位、阈值电压、移动离子污染和界面陷阱密度的信息
DataCUBE-CR-PFM
DCUBEPAZE响应显微镜结合联系共振提供CCUBE-PFM的益惠,附加益益是在每个像素提供频率坡道,提供全频谱和接触共振峰值敏感度
DataCUBE-SSRM
扫描阻抗显微镜用于映射倾斜半导体中多载量集中的变异DCUBE-SSRM同时获取纳米机信息并单量测3D载波密度映射生成数据立方体提供完全特征分析,包括纳米地形学、机械信息学和日志阻抗光谱学外加IV测量显示传导性 或Ohmic非Ohmic Schottky
DataCUBE-sMIM
扫描微波微镜成像提供阻抗电容部分地图DC/dV和dR/dV数据-用户定义样本电压使用 DCUBE-sMIM可同时从各种样本电压中获取相同的属性-单扫描-并同时获取全图光谱还显示额外信息,例如传导类型(Ohmic、非Ohmic、Schottky等)、氧化物厚度、氧化物加荷、移动离子污染和界面陷阱密度
