光谱学今天是在线过程监控优化的非常重要技术Fiber相交探针可立即直接查寻过程
MATRIX-F二型FT-NIR光谱仪可直接测量过程堆和管道,从而加深理解和控制过程其创新技术提供持续高质量结果,减少故障时间和直接方法转移万博在线客服布鲁克进程分光计都以强健性、长期稳定性和低维护成本为特征
化学、石油化工和聚合物行业以及制药过程和食品和饲料制造领域数千个装置证明我们的经验
今日多厂商不仅努力生产最高质量最终产品,而且努力提高制造效率,从实验室获取分析技术并应用到工厂中通过更严格控制制造过程,有可能优化材料使用并减少或消除非专用材料生产,从而避免后处理或处置成本
实时联机FT-NIR分析的长处早已确立。传统光谱仪只能安装近程序监测,使分析器暴露于敌对环境,如剧烈温度变化和接触灰尘此外,器械需要定位于难以获取并经常排除保护区
通过使用光学光学技术,工业加固光学探针可访问难达点,而MATRIX-FII定位,例如分析馆万博在线客服布鲁克光学系统为各种联机分析任务提供完全解决方案
常用流程控制应用包括直接监控化学反应和中间产品与最终产品质量
理想工具判定混合过程同质性、组成化学聚积和各种行业聚合过程状态
MATRIX-FII是唯一FT-NIR光谱仪可用光纤维技术测量接触和无接触材料
Fiber光学检验经典扩散反射器、反射探针或传输探针可选择多路长度并使用流程流电池或实验植物组件各种探测素材可用性像不锈钢或哈斯特洛
无接触度量头光学NIR光照检测头中含有启发样本的tungsten源散光通过光纤电缆收集引导光谱计以此方式, 无触测量可远程执行, 打开全数组新应用最多六头可连接MATRIX-F二号发射或MATRIX-F二号双分光计
经典FT-NIR光谱仪使用流电池和传统探针(固态和液态探针)。
专用MATRIX-F二分光计使用纤维叠加测量头仅用于无接触测量
经典MATRIX-F二型FT-NIR分光计扩展用于同时使用光纤探针和分光传感器头
MATRIX-F还提供前防伪ATEX等级版,符合下列标准:
MATRIX-F二号专用FT-NIR进程分光计可直接经受严酷环境
工具使用最先进光学实现精敏性稳定其创新设计提供持续高质量结果、减少故障时间、直接方法转移和新应用可能性等不敏感和精确工具无法实现的新应用全面支持行业标准通信协议保证易整合
MATRIX-F二类也可以安装在实验室中,作为单机系统开发方法并直接移入过程应用单机单元NEMA5/IP65防滑墙,但也可以安装在温度控制柜中标准19英寸架MATRIX-F二类可安装六端光复用器
MATRIX-F二类设计为可靠性和易维护manbet手机网页预对接机上可耗构件可互换而无需对光学作任何调整。 NIR长效光源和最先进激光二极管可大幅降低服务运算和拥有成本manbet手机网页工具可快速维护最小中断制造过程
MATRIX-F二类装有自动滤波轮装箱标准材料和滤波测试工具性能OVP验证程序软件执行一系列性能测试,评价工具性能并确保工具按规范操作-药业应用的先决条件
CMET软件提供行业标准接口,允许OPUS使用4-20MA、Modbus、ProfibusDP和OPC等多种标准通信接口和协议整合到进程控制环境
深入了解FT-NIR产品和解决方案
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