基于FT-NIR和FT-IR技术的流程分光计

光谱分析今天是在线过程监控优化的非常重要方法Fiber相联探针能立即直接查寻过程

FT-IR/FT-NIR进程分光度

FT-NIR解决方案的长处主要表现为例行过程应用短时间测量后,监测和控制的重要过程参数几乎立即可用各种探针或流细胞允许在几乎所有过程条件使用NIR技术MATRIX-F二号内装六复用器为使用标准SMA连接器连接纤维相联测量配件提供简单方式

FT-IR解决方案通过简单峰值分析和趋势监测显示其长处,特别是流程开发优化主程序今天在实验室 实验工厂MATRIX-MF可安装各种检测器和探针并适应进程应用的具体需求万博在线客服Rube-Bruker高性能FT-IR插件计可供OEM定制集成使用


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