M1MISTRAL
紧凑计算机微XRF分光计
批量材料和编码
成本效率操作
百微米
最小点尺寸
甚至能解决电路板上精密结构细节
2n-60m
宽度范围分析多元素层
挑战式分析层厚度和组成依据ASTMB568和ISO3497包括层复用元素可编程多点分析
8ppm
Cu检测限值Zn聚合物检测限值或ZnPb检测限值
ROSS筛选分析焊接器、塑料类和金属合金中的微量元素自动校正物料厚度 精确测量点定位
紧凑多功能计算机微分光度
关键因素
- 弹性工具
- 易操作性
- 方便用户触屏接口
- 访问原始数据
M1MISTRAL为多功能分散能量微型XRF分析器,易于操作并设计在一个工业环境中快速高效操作,M1MISTRAL提供精密信息说明元素组成和层厚度,如贵金属合金和多层结构
批量涂层根据ASTM标准B568和欧洲规范ISO3497分析无电沉积磷酸镍涂层分析中可实现高精度,通过Rh目标振荡
首饰合金、白金类金属或银的精度组成分分钟确定结果可以是权值-百分比或克拉输出
分析可无标准或基于标准实现更高精度每种应用都可大易标度
从定位样本到打印报表结果-全工作流综合入软件同时保证完全透明化并开放原始数据存取
M1MISTRAL福利
各种元素可非破坏性测量不需要样本准备连复杂分析任务都可用可编程XYZ级自动启动并单点鼠标启动超快检测系统提供快速结果
M1MISTRAL带大片硅漂移检测器SDD高计率性能和能解析法将检测限值推向ppm高性能检测器、数字脉冲处理和优化几何条件产生高效X射线检测结果,并因此快速精确分析结果
M1MISTRAL易用免维护设计和强分析软件套件许可操作不需要消耗品或气体Study建设确保最大稳定性和免维护运算
技术细节
引人入胜 |
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马克斯样本大小加权 |
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检测器 |
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马克西阶段旅行范围 |
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广域元素 |
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工具维度 |
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| X光点尺寸 |
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XSpect分析软件套件
- 工具控制、数据获取和管理
- 可选择用户触屏接口
- 相位控制编程
- 层厚度和组成多层分析
- 量化组成分析无标准经验模型
- 频谱查看器自动峰值识别
- 统计过程控制趋势线和数据
- 报表生成器
- 结果归档
