FFRAC.LEPTOS
全功能材料研究软件包
X射线反射度(XRR)提供垂直样本密度剖面、层厚度和界面粗糙度的详细信息高分辨率X光分片测量样本晶体结构gISXS用于评价纳米粒子和孔隙性残留压力分析检测散装样本和多晶体涂层的菌株状态
LEPTOS除传统单曲扫描外,还帮助分析高分辨率HRXRD和XRR对等空间地图、GISAXS和XRD2压力框架、RHXRD区域映射和残余压力应用数据是否用0-D检测器收集无关紧要
GUI可定制适应科学研究者与业界操作者的要求
- XRR、HRXRD、GISAXS和RS测量联合评价
- 高级X射线散射理论和数值方法估计、模拟和安装数据直接对等空间
- 自然综合处理一二维数据集
- 通用样本模型编辑器参数化任何类型薄膜和批量样本
- 可扩展综合资料库覆盖所有230晶体空间组
- 面积映射工具显示和评价大采样区测量
- 高级sin2Q分析一维二维数据法以及多链式涂层压力梯度评价法
DIFFRAC.LEPTOS模块
LeptosR
LEPTOSR设计用于分析薄层结构中的X射线反射度数据和非视觉分解模块完全综合入LEPTOS套件中,该套件同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据作为LEPTOS套件的一部分,R模块继承全包所有常用功能
LEPTOSR在若干国际基准中评分高,包括VAMAS项目A10LEPTOS R结构符合新开发的 XRR数据格式国际rfCIF标准
LeptosH
LEPTOSH表示高分辨率X射线破解和割破事件X射线破解数据分析
模块完全综合入LEPTOS套件中,该套件同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据作为LEPTOS套件的一部分,H模块继承全包所有常用功能
内普特斯s
LEPTOSS是一个创新、强力综合模块,用于分析由0D检测器、1D检测器或2D检测器使用经典sin2模块完全整合LEPTOS套件并继承全包常用功能
LeptosG
LEPTOSG评估采样中嵌入表层或位于样本表面的纳米粒子。举例说,这些可以是掩埋或表面半导体量点和岛屿、多孔材料、压缩粉末、嵌入聚合物纳米粒子等G模块许可中还包括R模块X射线反射
DEFFRAC.LEPTOS规范
| 版本化 | 目前的软件版本为V7.10.12 |
分析方法 |
动态Parratt形式化 差异间粗糙模型 运算符计算X射线散射参数法 EigenWifes专利法 快速2x2和精确4x4递归矩阵形式 经典扩展sin2QQ方法以及XRD2方法 hkl++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++ 薄多晶体涂层的压力/约束梯度 |
操作系统 |
Windows8和10(32位或64位) |
